Verschil tussen scanning electron microscopy en raman spectrometer

Chemisch

Inhoudsopgave

Scanning electron microscopy (SEM) en raman spectroscopie zijn twee krachtige analysetechnieken voor het bestuderen van materialen. Met deze technieken wordt de structuur en de samenstelling van het materiaal bestudeerd. Hieronder vergelijken we kort de principes, informatietypen en toepassingen van beide technieken.

Scanning electron microscopy

Scanning electron microscopy (SEM) gebruikt een elektronenbundel om de morfologie, topografie en chemische samenstelling van monsters te onderzoeken. Dit monster vacuüm wordt vacuüm verpakt en een elektronenbundel wordt op het oppervlak gericht. De elektronen raken het monster die vervolgens verstoord raken of geabsorbeerd worden. De signalen die dit proces afgeeft, worden omgezet in een digitaal beeld. De gedetailleerde informatie van SEM wordt toegepast in diverse vakgebieden zoals materiaalkunde, nanotechnologie en biologie.

Raman Spectroscopie

Raman spectroscopie maakt gebruik van inelastische verstrooiing van licht om informatie te verkrijgen over de chemische samenstelling, moleculaire structuur en kristallografische oriëntatie van materialen. Een raman spectrometer maakt gebruik van een monochromatische lichtbron, meestal een laser, om het monster te belichten. Wanneer het licht met het monster interageert, worden sommige fotonen geabsorbeerd en opnieuw uitgezonden met een veranderde energie, wat resulteert in de zogenaamde raman-verschoven lichtstralen. Met behulp van deze stralen kan de chemische samenstelling en structuur van het monster bepaald worden. Een raman spectrometer wordt voor verschillende toepassingen gebruikt zoals materiaalkunde tot archeologie.

Belangrijkste Verschillen

Informatietype: Een raman spectrometer geeft informatie over de chemische samenstelling, moleculaire structuur en kristallografische oriëntatie en SEM biedt informatie over morfologie, topografie en elementaire samenstelling.

Laat een reactie achter

Het e-mailadres wordt niet gepubliceerd. Vereiste velden zijn gemarkeerd met *